SIMS: Basic Principles and Components

Loading...
Просмотреть программу курса

Рецензии

4.8 (оценок: 11)
  • 5 stars
    9 ratings
  • 4 stars
    2 ratings
Из урока
Particle Diagnostics. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
This module deals with methods which utilize heavy particles (protons and other ions) as primary bombarding particles. In SIMS sputtering yield is being analyzed, giving great information on surface composition.

Преподаватели

  • Sadovsky Yaroslav

    Sadovsky Yaroslav

    Assistant

Ознакомьтесь с нашим каталогом

Присоединяйтесь бесплатно и получайте персонализированные рекомендации, обновления и предложения.